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电学测试b体育官网的解决方案

数字集成电路测试系统-b体育登录入口app

● ate类型:数字集成电路

● 操作方式:自动

● 应用范围:晶圆、芯片

● 适用测试:电源功耗、开短路、输入漏电、输出带载能力、功能测试

● 适用场景:晶圆制造工厂、封装测试工厂、芯片设计公司

应用范围:

mcu、flash、ldo、adc、dac、logic等芯片参数的cp、ft测试

主要特点:

● 数字通道内建ppmu/频率测量单元

● source/capture向量

● 最高2gb 存储深度 scan向量

● alpg向量生成测试存储芯片


设备参数:

最大数据速率200mbps
最大数字通道512(64*8)
器件电源数量32(16*2)
器件电源参数-10v~ 10v/最大8a
参数测量电压-1.5v~ 6.5v/精度10mv
参数测量电流

±2ua/±20ua/±200ua±2ma/±50ma


机械&电气规格:

机械规格

外尺寸(测试头)

520(w)*490 (l)*650(h)mm

净重(测试头)

approx.70kg

毛重(测试头)

approx.100kg


电气规格

能量功耗

3000w

工作电压

200~240vac 50/60hz



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